全站儀任意直線放樣詳細(xì)操作步驟

全站儀直線放樣功能用于測(cè)設(shè)相對(duì)于確定基線的距離為已知的點(diǎn)位，也可用于求取測(cè)量點(diǎn)至確定基線的距離。主要有定義基線、點(diǎn)放樣、線放樣三個(gè)大步驟，下面東英測(cè)繪儀器小編就這三個(gè)步驟分別給大家做一個(gè)詳細(xì)的分享。（注：演示使用的全站儀為索佳全站儀）

1、定義基線（輸入兩已知點(diǎn)的坐標(biāo)）

基線可以通過輸入兩已知點(diǎn)的坐標(biāo)或測(cè)定兩點(diǎn)坐標(biāo)來定義。

輸入兩點(diǎn)坐標(biāo)定義基線步驟：

在測(cè)量模式二頁菜單下按[ 菜單]鍵后選取“直線放樣”—輸入測(cè)站數(shù)據(jù)—選取“定義基線”—輸入基線起點(diǎn)坐標(biāo)數(shù)據(jù)后按[ OK]鍵。—輸入基線終點(diǎn)坐標(biāo)數(shù)據(jù)—按[ OK]鍵結(jié)束基線定義進(jìn)入<直線放樣>界面。

2、直線點(diǎn)放樣

直線點(diǎn)放樣功能可通過輸入基于確定基線的長(zhǎng)度值和偏距值來求取放樣點(diǎn)的坐標(biāo)，并根據(jù)求得的坐標(biāo)進(jìn)行放樣。在進(jìn)行直線點(diǎn)放樣測(cè)量前須先定義基線。

直線點(diǎn)放樣測(cè)量步驟：

（1）在“直線放樣”界面下選取“點(diǎn)放樣”—輸入增量（長(zhǎng)度或平距的增量值，按箭頭鍵可在長(zhǎng)度值或平距值原值基礎(chǔ)上增加或減少該值）、長(zhǎng)度（放樣點(diǎn)在基線上的垂足點(diǎn)至基線起點(diǎn)間的距離（X 方向））、偏距值（放樣點(diǎn)至其在基線上垂足點(diǎn)間的距離（Y 方向））。—按[ OK]鍵計(jì)算并顯示放樣點(diǎn)的坐標(biāo)值。（[放樣]鍵用于計(jì)算點(diǎn)的放樣測(cè)量。[記錄]鍵用于存儲(chǔ)計(jì)算結(jié)果。）

（2）按{ ESC}鍵從步驟2起繼續(xù)直線放樣測(cè)量。

基線移動(dòng)（基線定義：在原有基線上偏移，重新定義新參考基線），定義的基線可以通過指定的縱向、橫向、高度偏離值和旋轉(zhuǎn)角進(jìn)行下圖所示的三維空間移動(dòng)。

基線移動(dòng)步驟：

（1）在“直線放樣”界面下選取“點(diǎn)放樣”—按[ 偏心]鍵進(jìn)入<基線偏距>界面—輸入增量（按箭頭鍵可在相應(yīng)偏離值基礎(chǔ)上增加或減少該增量值）、縱向（縱向偏離值）、橫向（橫向偏離值）、高度（高度偏離值）、旋轉(zhuǎn)角（旋轉(zhuǎn)角偏離值）。

（2）按[ OK]鍵返回“直線點(diǎn)放樣測(cè)量”步驟 2 界面—在“直線點(diǎn)放樣測(cè)量”步驟 2 界面下設(shè)定各值，按[ OK]鍵便可計(jì)算參照移動(dòng)后基線的放樣點(diǎn)的坐標(biāo)。

3、直線線放樣

直線線放樣功能用于求取測(cè)量點(diǎn)相對(duì)于確定基線的水平距離和垂直距離。需要時(shí)基線還可做水平向的偏移處理。在進(jìn)行直線線放樣測(cè)量前須先定義基線。

直線線放樣測(cè)量步驟：

在“直線放樣”界面下選取“線放樣”—輸入基線的偏移值。（偏移：基線在水平向上的偏移距離。向右側(cè)偏移時(shí)取正值，向左側(cè)偏移時(shí)取負(fù)值。若不設(shè)置偏移值直接轉(zhuǎn)至步驟 3）— 照準(zhǔn)目標(biāo)后按[ 觀測(cè)]鍵測(cè)量。（屏幕上顯示出測(cè)量結(jié)果，按[ 停止]鍵停止測(cè)量。）—按[ [ YES] ]鍵確認(rèn)測(cè)量結(jié)果。屏幕上顯示出測(cè)量點(diǎn)與基線的偏差值：（偏距：測(cè)量點(diǎn)至基線的水平距離，偏右側(cè)為正值，偏左側(cè)為負(fù)值。偏高：表示測(cè)量點(diǎn)位于基線上方。偏低：表示測(cè)量點(diǎn)位于基線下方。長(zhǎng)度：測(cè)量點(diǎn)在基線上的垂足點(diǎn)至基線起點(diǎn)的距離。）—按[ NO]鍵重新觀測(cè)目標(biāo)。

5. 照準(zhǔn)下一目標(biāo)后按[ 觀測(cè)]鍵繼續(xù)測(cè)量。[記錄]鍵用于存儲(chǔ)測(cè)量結(jié)果。